函數(shù)作為基礎(chǔ)知識(shí)，在各地的中考試題中主要以填空題、選擇題的形式來(lái)考查函數(shù)的基本概念、函數(shù)自變量的取值范圍、函數(shù)之間的變化規(guī)律及其圖象。
考綱要求：
1、會(huì)畫(huà)平面直角坐標(biāo)系，并能根據(jù)點(diǎn)的坐標(biāo)描出點(diǎn)的位置，由點(diǎn)的位置寫(xiě)出點(diǎn)的坐標(biāo)。
【資料圖】
2、掌握坐標(biāo)平面內(nèi)點(diǎn)的坐標(biāo)特征。
3、了解函數(shù)的有關(guān)概念和函數(shù)的表示方法，并能結(jié)合圖象對(duì)實(shí)際問(wèn)題中的函數(shù)關(guān)系進(jìn)行分析．
4、能確定函數(shù)自變量的取值范圍，并會(huì)求函數(shù)值。
一、平面直角坐標(biāo)系與點(diǎn)的坐標(biāo)特征
1．平面直角坐標(biāo)系
如圖，在平面內(nèi)，兩條互相垂直的數(shù)軸的交點(diǎn)O稱(chēng)為原點(diǎn)，水平的數(shù)軸叫__________，豎直的數(shù)軸叫__________，整個(gè)坐標(biāo)平面被x軸、y軸分割成四個(gè)象限．
三、距離與點(diǎn)的坐標(biāo)的關(guān)系
1．點(diǎn)與原點(diǎn)、點(diǎn)與坐標(biāo)軸的距離
點(diǎn)P(x，y)到x軸和y軸的距離分別是|y|和|x|，點(diǎn)P(x，y)到坐標(biāo)原點(diǎn)的距離為
四、函數(shù)有關(guān)的概念及圖像
五、函數(shù)自變量取值范圍的確定
確定自變量取值范圍的方法：
考點(diǎn)一、平面直角坐標(biāo)系內(nèi)點(diǎn)的坐標(biāo)特征
方法總結(jié)：解這類(lèi)題的關(guān)鍵是明確各象限內(nèi)點(diǎn)的坐標(biāo)特征，總結(jié)規(guī)律，再結(jié)合規(guī)律列出不等式(組)求解
考點(diǎn)二、圖形的變換與坐標(biāo)
方法總結(jié) ：在平面直角坐標(biāo)系中，圖形的平移、對(duì)稱(chēng)、旋轉(zhuǎn)等變換會(huì)引起坐標(biāo)的變化，同樣，坐標(biāo)的變化也會(huì)引起圖形的變換，兩者緊密結(jié)合充分體現(xiàn)了數(shù)形結(jié)合的思想．
考點(diǎn)三、函數(shù)的概念
考點(diǎn)四、函數(shù)圖像的應(yīng)用
方法總結(jié) ：利用函數(shù)關(guān)系和圖像分析解決實(shí)際問(wèn)題，要透過(guò)問(wèn)題情境準(zhǔn)確地尋找出問(wèn)題的自變量和函數(shù)，要看清橫坐標(biāo)和縱坐標(biāo)表示的是哪兩個(gè)變量，探求變量和函數(shù)之間的變化趨勢(shì)，仔細(xì)觀察圖像(直線或曲線)的“走勢(shì)”特點(diǎn)，合理地分析變化過(guò)程，準(zhǔn)確地結(jié)合圖像解決實(shí)際問(wèn)題．
考點(diǎn)五、函數(shù)自變量取值范圍的確定
方法總結(jié) ：自變量的取值必須使含自變量的代數(shù)式有意義
主要體現(xiàn)在以下幾種：
含自變量的解析式是整式：自變量的取值范圍是全體實(shí)數(shù)；
含自變量的解析式是分式：自變量的取值范圍是使得分母不為0的實(shí)數(shù)；
含自變量的解析式是二次根式：自變量的取值范圍是使被開(kāi)方式為非負(fù)的實(shí)數(shù)；
含自變量的解析式既是分式又是二次根式時(shí)：自變量的取值范圍是它們的公共解，
一般列不等式組求解；
當(dāng)函數(shù)解析式表示實(shí)際問(wèn)題時(shí)：自變量的取值必須使實(shí)際問(wèn)題有意義．
寫(xiě)在最后：中考數(shù)學(xué)沖刺階段的復(fù)習(xí)，不管的大題還是選擇填空這類(lèi)型的小題，都是非常考驗(yàn)基礎(chǔ)的牢固性，只有堅(jiān)實(shí)的基礎(chǔ)，加上實(shí)用的技巧，拿到高分，沖刺才有實(shí)際的意義。所以沖刺階段總結(jié)起來(lái)就是基礎(chǔ)為主，技巧為輔，走實(shí)踐主義道路。
end
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